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TECHNICAL ARTICLES 產(chǎn)品名稱:導(dǎo)電粒子顯微鏡
產(chǎn)品型號:PZ-JTM-5040H
產(chǎn)品簡介:主要用于LCD、PDP、PCB等相關(guān)的光電產(chǎn)業(yè),為其研發(fā)、制造提供所需的檢測設(shè)備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測量導(dǎo)電粒子大小、數(shù)量等功能
產(chǎn)品特點:
導(dǎo)電粒子顯微鏡是一種兼顧影像與目視兩用的高精度、率測量儀器。它具有電視成像與目視光學(xué)兩套瞄準系統(tǒng),是集光、機、電、算、影像于一體的測量型金相顯微鏡。該儀器用于電子組件、精密模具、精密刀具、塑料、PCB加工等方面,不僅可用作坐標測量,還可以目鏡標準分劃板作顯微放大比較測量,測量螺紋的節(jié)距、外徑、牙角等工件尺寸或外形輪廓,ACF導(dǎo)電粒子形狀和瑕疵觀察,除應(yīng)用于長度、角度測量外,還可作為觀察顯微鏡。是機械、電子、儀表、鐘表、輕工、塑料行業(yè),院校、研究所和計量檢定部門的計量室、實驗室已經(jīng)生產(chǎn)車間計量檢測設(shè)備之一。
1. 符合人機工程學(xué)設(shè)計準則方便操作測量
2. 工作臺一鍵式氣動單手快速移動操作
3. 可實現(xiàn)Z軸自動對焦
4. 具有偏光和DIC檢測功能
5. 采用被動式減震裝置,提高整機精度穩(wěn)定性
6. 測量軟件,高清晰1/2"彩色攝像機
7. 可通過激光指示器尋找被測工件的具體位置,可適應(yīng)復(fù)雜工件的測量
8. 可實現(xiàn)高度輔助測量
9. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm
10. 同軸光/底光測量
11. 可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度
規(guī)格參數(shù):
規(guī)格型號 | JTM-5040H | |||||
工作臺 | 玻璃臺尺寸(mm) | 570*470 | ||||
運動行程(mm) | 500* 400 | |||||
Z軸電動升降行程(mm) | 200 | |||||
光柵尺分辨力(μm) | 0.1μm | |||||
X、Y坐標示值誤差(μm) | 2.5+ L/75 (L為測量長度,單位mm) | |||||
影像系統(tǒng) | 彩色1/2”CCD攝色機:;結(jié)合測量軟件QMS3D-M | |||||
顯微鏡系統(tǒng) | 三目頭 目鏡:10倍 濾光片:黃、綠、藍、白 量測模式:反射,透射,偏光 5孔物鏡轉(zhuǎn)換鏡 | |||||
照明系統(tǒng) | 透射照明光源:白光LED,亮度可調(diào) 同軸照明光源:12V 100W鹵素燈,亮度可調(diào) | |||||
物鏡 | ||||||
倍率 | 5X | 10X | 20X | 50X | ||
工作距離 (mm) | 18.0 | 15.0 | 4.5 | 11.0 | ||
總放大倍率 | 目視 | 50X | 100X | 200X | 500X | |
19寸視頻 | 301.625X | 603.25X | 1206.5X | 3016.25X | ||
高度量測模塊 (選配件) | 白光干涉高度測量模塊(M10-CA),高度量測分辨率0.5 μm (選配):倍率10X,工作距離5mm,光學(xué)分辨力2um | |||||
其他參數(shù) | ||||||
外形尺寸 (mm) | 1270*1150*1860 | |||||
儀器重量 (kg) | 850 | |||||
電源功耗 | ~220V 50/60Hz < 60W(不包含計算機) | |||||
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